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SS-110及SS-120是美國Apogee公司生產的一款新型小巧光譜測量儀，配套監測軟件，可以直接測量不同輻射源（如：植被或人造光源）的輻射通量密度，光量子通量密度，天然和合成表面和材料（如：植物葉片和冠層）的反射輻射或透射測量等。
典型應用
通過軟件處理，可以直接測量不同輻射源（如：植被或人造光源）的輻射通量密度，光量子通量密度，天然和合成表面和材料（如：植物葉片和冠層）的反射輻射或透射測量等。
技術參數
型 號
SS-110
SS-120
光譜范圍
340-820nm
635-1100nm
光譜測量間隔
1.0nm
光譜分辨率
3.0nm
光譜精度
± 0.5 nm
光譜重復性
± 0.2 nm
模擬/數字轉換
14bit
信號噪聲比
1500:1
雜 散 光
≤ 0.25 % at 590 nm
≤ 0.25 % at 850 nm
噪 音
≤3 counts
積分時間范圍
10 ms～10 s
線 性
＜1%或0.5%
測量靈敏度
＞10% (波長大于380nm)
＞10% (波長小于1030nm)
測量重復性
＜1%（波長大于400nm）
＜1%（波長小于1020nm）
方向（余弦）響應
±5%（在天頂角75°時）
視 角
180°（朝上安裝的傳感器）
25°或150°（朝下安裝的傳感器）
溫度響應
-0.1±0.1%/℃
輻照度校準不確定度
±5%
電 流
190mA (USB測量)
功 耗
1W（USB測量）
通 訊
USB端口
軟 件
Apogee配套軟件
(Windows， XP及以后版本；Mac操作系統，10.9及以后版本)
工作環境
-20～+70℃; 0～100%RH
重 量
300g
尺 寸
89.3mm(H), 50.8mm(W), 38.1mm (L)
留言板
京公網安備 11010802025807號
